| 标准号： |
IEC 60748-20-1988 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Intergrated circuits. Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film intergrated circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>膜集成电路 |
| 发布日期： |
1988 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47A |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Partie 20: Spécification générique pour les circuits intégrés à couches et les circuits intégrés hybrides à couches (Edition 1.0; Includes Amendment 1: 9/1995) |
| 页数： |
42P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60748-20 (1988) |
| 采用关系： |
DIN IEC 60748-20-1990,IDT;BS QC 760000-1990,IDT;GB/T 8976-1996,IDT;SEV-ASE 3609-20-1989,IDT;SS-IEC 748-1991,IDT;DS/IEC 748-20-1990,IDT;NEN 10 748-20-1989,IDT |
| 增补： |
IEC 60748-20 AMD 1-1995 |
| 内容提要（CN）： |
总规范;半导体器件;半导体;膜集成电路;集成电路;电气工程;电子工程 |
| 内容提要（EN）： |
Definitions;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Film circuits;Generic specification;Hybrid film integrated circuits;Hybrid integrated circuits;Inspection;Integrated circuits;Integrated film circuits;Measurement;Measuring techniques;Quality assessment;Quality assurance;Semiconductor devices;Semiconductors;Specification (approval);Testing |
| 内容提要（QT）： |
Anforderung;Begriffe;Definition;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Fachgrundspezifikation;Gütebest？tigung;Halbleiter;Halbleiterbauelement;Hybridschaltung;integrierte Hybridschaltung;integrierte Schaltung;integrierte Schichtschaltung;Messung;Messverfahren;Prüfverfahren;Qualit？tsprüfung;Qualit？tssicherung;Schichtschaltung;Umweltprüfung |
| 归属： |
国际 |
