| 标准号： |
IEC 60747-9-2007 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2007-09 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
三极管>>三极管 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 9: Transistors bipolaires à grille isolée (IGBT) (edition 2.0) |
| 页数： |
120P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-9 (2007-09);IEC 47E/333/FDIS (2007-06);IEC 47E/282/CDV (2005-06);IEC 60747-9 Edition 1.1 (2001-11);IEC 60747-9 AMD 1 (2001-08);IEC 47E/194/FDIS (2001-05);IEC 60747-9 (1998-08);IEC 47E/109/FDIS (1998-04);IEC 47E/43/CDV (1996-04);IEC/DIS 47(CO)1339 (1992-07) |
| 被代替标准： |
IEC 60747-9 AMD 1-2001;IEC 60747-9-1998;IEC 47E/333/FDIS-2007;IEC 60747-9 Edition 1.1-2001 |
| 引用标准： |
IEC 60747-1-2006;IEC 60747-2;IEC 60747-6;IEC 61340 |
| 采用关系： |
BS IEC 60747-9-2007,IDT |
| 内容提要（CN）： |
验收检验;双极;双极晶体管;电路;元件;连接件;测量用连接件;定义;尺寸选定;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;性能;合格试验;额定值;整流二极管;基准方法;可靠度;常规检验试验;半导体器件;半导体;标志;规范(验收);符号;测试;晶体管;警告符号 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance inspection;Bipolar;Bipolar transistors;Circuits;Components;Connections;Connections for measurement;Definition;Definitions;Dimensioning;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Inspection;Integrated circuits;Limits (mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuring techniques;Properties;Qualification tests;Ratings;Rectifier diodes;Reference methods;Reliability;Routine check tests;Semiconductor devices;Semiconductors;Signs;Specification (approval);Symbols;Testing;Transistors;Warning symbols |
| 内容提要（QT）： |
Abnahmeprüfung;Anforderung;Anschluss;Bauelement;Begriffe;Bemessung;bipolar;Bipolartransistor;Definition;Eigenschaft;Einzelbauelement;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Gleichrichterdiode;Grenzwert;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Kenndaten;Kennwert;Kennzeichen;Kennzeichnung;Kurzzeichen;Messschaltung;Messung;Messverfahren;Prüfung;Prüfverfahren;Qualit？tsprüfung;Referenzverfahren;Schaltung;Schild;Stückprüfung;Symbol;Transistor;Typprüfung;Warnzeichen;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
