| 标准号： |
IEC 62860-2013 |
| 英文名称： |
Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体三极管 |
| 发布日期： |
2013-08 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
物理学、化学>>物理学、化学 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 113 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Prüfmethoden für die Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien |
| 页数： |
23P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62860 (2013-08);IEC 113/184/FDIS (2013-03) |
| 被代替标准： |
IEC 113/184/FDIS-2013 |
| 采用关系： |
IEEE 1620-2008,IDT |
| 内容提要（CN）： |
特性记述;定义;电性能;电子设备及元件;材料;测量;测量技术;计量学;纳米技术;有机的;试验设备;测试;测试条件;晶体管 |
| 内容提要（EN）： |
Characterisations;Definitions;Electrical properties;Electronic equipment and components;Materials;Measurement;Measuring techniques;Metrology;Nanotechnology;Organic;Test equipment;Testing;Testing conditions;Transistors |
| 内容提要（QT）： |
Begriffe;Charakterisierung;Definition;elektrische Eigenschaft;elektronisches Bauelement;Messtechnik;Messung;Messverfahren;Nanotechnologie;organisch;Prüfbedingung;Prüfger？t;Prüfung;Prüfverfahren;Transistor;Werkstoff |
| 归属： |
国际 |
