| 标准号： |
IEC 62860-1-2013 |
| 英文名称： |
Test Methods for the Characterization of Organic Transistor-Based Ring Oscillators |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体三极管 |
| 发布日期： |
2013-08 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
物理学、化学>>物理学、化学 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 113 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Prüfmethoden für die Charakterisierung von auf organischen Transistoren basierenden Ring-Oszillatoren |
| 页数： |
20P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62860-1 (2013-08);IEC 113/185/FDIS (2013-03) |
| 被代替标准： |
IEC 113/185/FDIS-2013 |
| 采用关系： |
IEEE 1620.1-2006,IDT |
| 内容提要（CN）： |
特性记述;定义;电子设备及元件;材料;测量技术;计量学;有机的;振荡器;试验设备;试验;晶体管 |
| 内容提要（EN）： |
Characterisations;Definitions;Electronic equipment and components;Materials;Measuring techniques;Metrology;Organic;Oscillators;Test equipment;Testing;Transistors |
| 内容提要（QT）： |
Begriffe;Charakterisierung;Definition;elektronisches Bauelement;Messtechnik;Messverfahren;organisch;Oszillator;Prüfger？t;Prüfung;Prüfverfahren;Transistor;Werkstoff |
| 归属： |
国际 |
