| 标准号： |
DIN EN 60747-16-4-2018 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009 + A2:2017); German version EN 60747-16-4:2004 + A1:2011 + A2:2017 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2018-0401 |
| 发布单位： |
DE-DIN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-04-01 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
| 正文语言： |
德语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-4: Circuits intégrés hyperfréquences - Commutateurs (IEC 60747-16-4:2004 + A1:2009 + A2:2017); Version allemande EN 60747-16-4:2004 + A1:2011 + A2:2017 |
| 页数： |
31P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 60747-16-4-2018-04;DIN EN 60747-16-4/A2-2016-01;DIN EN 60747-16-4-2011-08;DIN IEC 60747-16-4/A1-2007-10;DIN EN 60747-16-4-2005-03;DIN IEC 60747-16-4-2001-07 |
| 被代替标准： |
DIN EN 60747-16-4-2011;DIN EN 60747-16-4/A2-2016 |
| 引用标准： |
IEC 60617-DB-2001;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-1 AMD 1-2010;IEC 60747-4-2007;IEC 60747-16-1-2001;IEC 60747-16-1 AMD 1-2007;IEC 60747-16-1 AMD 2-2017;IEC 60748-2-1997;IEC 60748-3-1986;IEC 60748-4-1997;IEC 61340-5-1-2007;IEC/TR 61340-5-2-2007 |
| 采用关系： |
EN 60747-16-4-2004,IDT;EN 60747-16-4/A1-2011,IDT;EN 60747-16-4/A2-2017,IDT;IEC 60747-16-4-2004,IDT;IEC 60747-16-4 AMD 1-2009,IDT;IEC 60747-16-4 AMD 2-2017,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Basic terms;Definitions;Dimensioning;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Functions;Input power;Insertion loss;Integrated circuit technology;Integrated circuits;Limits (mathematics);Marking;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microwave circuits;Parameters;Power output;Return loss;Semiconductor devices;Semiconductor memory;Semiconductors;Switches;Switching circuits;Terminology;Vocabulary;Semiconductor storage |
| 内容提要（QT）： |
Interrupteur;Dispositif semi-conducteur;Puissance réfléchie;Technologie de circuit intégré;Cotation;Circuit microélectronique;Electronique;Marquer;Mesurage;Composant électronique;Semi-conducteur;Microélectronique;Microstructure électronique;Fabrication de circuit intégré;Electronique moléculaire;Mémoire à semi-conducteur;Définition;Métrologie;Dispositif électronique;Paramètre;Marquage;Circuit de commutation;Commutateur;Travail;Fonction;Tache;Puissance d'entrée;Nomenclature;Perte d'insertion;Metrologie;Limite (mathématiques);Terminologie;Circuit hyperfréquence;Mesurage, essai et instruments;Circuit intégré de commutation;Technique de mesure;Interrupteur électrique;Terminologie technique;Electrotechnique;Concept de base;Matériel et composants électroniques;Vocabulaire;Puissance fournie;Dimensionnement;Circuit intégré;Chips de silicon;Méthode de mesure;Matériau de semi-conducteur;Production de circuit intégré;Microstructure;Aiguillage |
| 归属： |
德国 |
