| 标准号： |
NF C96-261-2-2011 |
| 英文名称： |
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2 : measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method. |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2011-11-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2011-11-12 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Circuits intégrés. Mesure de l'immunité électromagnétique. Partie 2 : mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM ? large bande |
| 页数： |
31P;A4 |
| 采用关系： |
EN 62132-2-2011,IDT;IEC 62132-2-2010,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Broadband;Circuits;Definitions;Electrical engineering;Electrical impedance;Electromagnetic;Electromagnetic compatibility;EMC;Field strength (electric);Frequency ranges;Immunity;Impedance;Influence quantities;Integrated circuits;Intensity of radiation;Interference rejections;Magnetoelectric effects;Measurement;Measurement conditions;Measuring results;Measuring techniques;Radiation effects;Radiosensitivity;Testing |
| 归属： |
法国 |
