| 标准号： |
BS EN 62132-8-2012 |
| 英文名称： |
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. IC stripline method |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2012-10-31 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2012-10-31 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
26P;A4 |
| 采用关系： |
EN 62132-8-2012,IDT;IEC 62132-8-2012,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电路;定义;电气工程;电磁兼容性;高频;抗扰性;影响量;集成电路;干扰抑制;磁电效应;测量;测量条件;测量结果;测量技术;射频电路;试验组织;试验;试验条件 |
| 内容提要（EN）： |
Circuits;Definitions;Electrical engineering;Electromagnetic compatibility;High frequencies;Immunity;Influence quantities;Integrated circuits;Interference rejections;Magnetoelectric effects;Measurement;Measurement conditions;Measuring results;Measuring techniques;RF circuits;Test set-ups;Testing;Testing conditions |
| 归属： |
英国 |
