| 标准号： |
BS EN 61967-2-2005 |
| 英文名称： |
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2006-01-23 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2006-01-23 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
26P.;A4 |
| 引用标准： |
IEC 60050-131-2002;IEC 60050-161-1990;IEC 61967-1 |
| 采用关系： |
EN 61967-2-2005,IDT;IEC 61967-2-2005,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电气工程;电磁辐射;电子工程;电子设备及元件;频率范围;信息技术;集成电路;干扰辐射;测量;测量技术;印制电路板;辐射释放;试验电路;测试;测试条件;测试装置;宽频带传输 |
| 内容提要（EN）： |
Electrical engineering;Electromagnetic radiation;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Frequency ranges;Information technology;Integrated circuits;Interfering emissions;Measurement;Measuring techniques;Printed-circuit boards;Radiated emissions;Test circuits;Testing;Testing conditions;Testing devices;Wide band transmission |
| 归属： |
英国 |
