标准号: |
BS EN 62433-2-2010 |
英文名称: |
EMC IC modelling - Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE) |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
发布日期: |
2010-02-28 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2010-02-28 |
ICS分类: |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
起草单位/标准公告: |
BSI |
正文语言: |
英语 |
页数: |
48P;A4 |
被代替标准: |
07/30163156 DC-2007 |
引用标准: |
IEC 61967;IEC 61967-4 |
采用关系: |
EN 62433-2-2010,IDT;IEC 62433-2-2008,IDT |
内容提要(CN): |
芯片;电路;定义;电气工程;电磁的;电磁兼容性;电子工程;EMI;发射;影响量;影响;集成电路;干扰抑制;干扰辐射;测量;测量技术;微电子学;模型;印制电路板;模拟 |
内容提要(EN): |
Chips;Circuits;Definitions;Electrical engineering;Electromagnetic;Electromagnetic compatibility;Electronic engineering;EMI;Emitting;Influence quantities;Influences;Integrated circuits;Interference rejections;Interfering emissions;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Models;Printed-circuit boards;Simulation |
归属: |
英国 |