| 标准号： |
NF C96-261-8-2013 |
| 英文名称： |
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: measurement of radiated immunity - IC stripline method |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微集成电路综合 |
| 发布日期： |
2013-02-28 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2013-02-28 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Circuits intégrés. Mesure de l'immunité électromagnétique. Partie 8: mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM ? plaques pour circuit intégré |
| 页数： |
27P;A4 |
| 采用关系： |
EN 62132-8-2012,IDT;IEC 62132-8-2012,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电路;定义;电气工程;电磁兼容性;高频;抗扰性;影响量;集成电路;干扰抑制;磁电效应;测量;测量条件;测量结果;测量技术;射频电路;试验准备;测试;测试条件 |
| 内容提要（EN）： |
Circuits;Definitions;Electrical engineering;Electromagnetic compatibility;High frequencies;Immunity;Influence quantities;Integrated circuits;Interference rejections;Magnetoelectric effects;Measurement;Measurement conditions;Measuring results;Measuring techniques;RF circuits;Test set-ups;Testing;Testing conditions |
| 归属： |
法国 |
