标准号: |
IEC 60749-17-2003 |
英文名称: |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
发布日期: |
2003-02 |
发布单位: |
IX-IEC |
标准状态: |
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ICS分类: |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
起草单位/标准公告: |
IEC/TC 47 |
正文语言: |
英语 |
原文名称: |
Dispositifs à semiconducteurs Méthodes d′essais mécaniques et climatiques Partie 17: Irradiation aux neutrons (Edition 1.0) |
页数: |
20P.;A4 |
附注: |
History:IEC 60749-17 (2003-02);IEC 47/1668/FDIS (2002-11);IEC 47/1588/CDV (2001-11) |
被代替标准: |
IEC 47/1668/FDIS-2002 |
采用关系: |
DIN EN 60749-17-2003,IDT;BS EN 60749-17-2003,IDT;EN 60749-17-2003,IDT;NF C96-022-17-2003,IDT;OEVE/OENORM EN 60749-17-2003,IDT;PN-EN 60749-17-2005,IDT;UNE-EN 60749-17-2003,IDT |
内容提要(CN): |
半导体;电气工程;射线影响;半导体器件;元部件;电子设备及元件;电学测量;环境试验;集成电路;中子射线;气候;气候试验;电子工程;机械试验;试验;破坏试验 |
内容提要(EN): |
Climate;Climatic tests;Components;Destructive testing;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Integrated circuits;Mechanical testing;Neutron radiation;Radiation effects;Semiconductor devices;Semiconductors;Testing |
内容提要(QT): |
Bauelement;elektrische Messung;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Klima;Klimaprüfung;mechanische Prüfung;Neutronenstrahlung;Prüfung;Prüfverfahren;Strahlungseinfluss;Umweltprüfung;zerst?rende Prüfung |
归属: |
国际 |