标准号: |
IEC/TS 62433-1-2011 |
英文名称: |
EMC IC Modelling - Part 1: General modelling framework |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>电磁兼容 |
发布日期: |
2011-04 |
发布单位: |
IX-IEC |
标准状态: |
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ICS分类: |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
起草单位/标准公告: |
IEC/SC 47A |
正文语言: |
英语 |
原文名称: |
Modèles de circuits intégrés pour la CEM – Partie 1: Cadre de modèle général (Edition 1.0) |
页数: |
22P;A4 |
附注: |
History:IEC/TS 62433-1 (2011-04);IEC 47A/840/DTS (2010-03);IEC 47A/825/CD (2009-08);IEC 47A/808/CD (2009-01);IEC 47A/785/CD (2008-02) |
被代替标准: |
IEC 47A/840/DTS-2010 |
引用标准: |
IEC 60050-131-2002;IEC 60050-161-1990 |
采用关系: |
BS DD IEC/TS 62433-1-2011,IDT |
内容提要(CN): |
芯片;电路;定义(术语);电磁的;电磁兼容性;电气技术;电磁兼容性(EMC);排放;发射;高频;抗扰度;影响量;影响;集成电路;接口;抗干扰度;干扰辐射;测量;测量技术;微电子学;印制电路板;辐射 |
内容提要(EN): |
Chips;Circuits;Definitions;Electromagnetic;Electromagnetic compatibility;Electrotechnology;EMC;Emission;Emitting;High frequencies;Immunity;Influence quantities;Influences;Integrated circuits;Interfaces;Interference rejections;Interfering emissions;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Printed-circuit boards;Radiation |
内容提要(QT): |
Abstrahlung;Aussendung;Ausstrahlung;Beeinflussung;Begriffe;Chip;Definition;elektromagnetisch;elektromagnetische Vertr?glichkeit;Elektrotechnik und Elektronik;Emission;EMV;Hochfrequenz;integrierte Schaltung;Interface;Leiterplatte;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Schaltung;St?raussendung;St?rfestigkeit;St?rgr??e;St?rsicherheit |
归属: |
国际 |