| 标准号： |
IEC 60749-26-2013 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2013-04 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 47 |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d'essais mécaniques et climatiques – Partie 26: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) – Modèle du corps humain (HBM) (Edition 3.0) |
| 页数： |
94P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60749-26 (2013-04);IEC 47/2160/FDIS (2013-01);IEC 47/2101A/CDV (2011-07);IEC 47/2101/CDV (2011-07);IEC 60749-26 (2006-07);IEC 47/1859/FDIS (2006-03);IEC 47/1803/CDV (2005-01);IEC 60749-26 (2003-10);IEC 47/1703/FDIS (2003-06);IEC 47/1623/CDV (2002-04);IEC/PAS 62179 (2000-08) |
| 被代替标准： |
IEC 47/2160/FDIS-2013;IEC 60749-26-2006 |
| 引用标准： |
IEC 60749-27 |
| 采用关系： |
ANSI/ESDA/JEDEC J-STD-001-2010,NEQ |
| 内容提要（CN）： |
温度变化;检验设备;分类;元部件;定义;尺寸规格;放电;电气元件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;静电的;静电放电;静电学;环境;环境测试;环境试验;故障;脉冲载荷能力;集成电路;干扰敏感性;测量设备;机械试验;模型;耐力;半导体器件;半导体;模拟;温度;试验;外观检查(测试);波形 |
| 内容提要（EN）： |
Changes of temperature;Checking equipment;Classification;Components;Definitions;Dimensions;Discharge;Electrical components;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Electrostatic;Electrostatic discharges;Electrostatics;Environment;Environmental testing;Environmental tests;Failure;Impulse loadability;Integrated circuits;Interference susceptibility;Measuring equipment;Mechanical testing;Models;Resistance;Semiconductor devices;Semiconductors;Simulation;Temperature;Testing;Visual inspection (testing);Waveforms |
| 内容提要（QT）： |
Abmessung;Ausfall;Bauelement;Begriffe;Best？ndigkeit;Definition;Einteilung;elektrische Messung;elektrisches Bauteil;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrostatik;elektrostatisch;elektrostatische Entladung;Elektrotechnik;Entladung;Halbleiter;Halbleiterbauelement;Impulsbelastbarkeit;integrierte Schaltung;mechanische Prüfung;Messeinrichtung;Modell;Prüfeinrichtung;Prüfung;Prüfverfahren;Sichtprüfung;Simulation;St？ranf？lligkeit;Temperatur;Temperaturwechsel;Umgebung;Umgebungsprüfung;Umweltprüfung;Wellenform;Widerstandsf？higkeit |
| 归属： |
国际 |
