| 标准号： |
EN 62047-22-2014 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 62047-22:2014); German version EN 62047-22:2014 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微集成电路综合 |
| 发布日期： |
2015-04 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prufverfahren fur leitfahige Dunnschichten auf flexiblen Substraten (IEC 62047-22:2014); Deutsche Fassung EN 62047-22:2014 |
| 页数： |
11P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 62047-22 (2015-04);DIN EN 62047-22 (2012-11) |
| 被代替标准： |
EN 62047-22-2012 |
| 引用标准： |
IEC 62047-2-2006;IEC 62047-3-2006;IEC 62047-8-2011;ISO 527-3-1995 |
| 采用关系： |
DIN EN 62047-22-2015,IDT;IEC 62047-22-2014,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Base materials;Components;Conductive;Definitions;Dimensions;Electrical engineering;Electromechanics;Materials;Measurement;Measuring techniques;Mechanical properties;Microelectronics;Microsystem techniques;Properties;Samples;Semiconductor devices;Substrates (coating);System engineering;Tensile testing;Tensile tests;Testing;Testing conditions;Testing system;Thin films;Thin-film devices;Thin-film technology |
| 内容提要（QT）： |
Abmessung;Basismaterial;Bauteil;Begriffe;Definition;Dunnfilm-Betriebsmittel;Dunnschicht;Dunnschichttechnik;Eigenschaft;Elektromechanik;Elektrotechnik;Halbleiterbauelement;leitfahig;mechanische Eigenschaft;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Mikrosystemtechnik;Probe;Prufbedingung;Prufsystem;Prufung;Prufverfahren;Systemtechnik;Untergrund (Beschichtung);Werkstoff;Zugprufung;Zugversuch |
|
下载“半导体器件综合”相关标准(下载...)
|
