标准号: |
BS QC 760200-1997 |
英文名称: |
Harmonized system of quality assessment for electronic components - Semiconductor devices - Integrated circuits - Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the capability approval procedures |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>膜集成电路 |
发布日期: |
1997-08-15 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
1997-08-15 |
ICS分类: |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
起草单位/标准公告: |
BSI |
正文语言: |
英语 |
页数: |
64P;A4 |
被代替标准: |
95/200682 DC-1995;BS QC 760200-1992 |
采用关系: |
IEC 60748-22-1997,IDT |
内容提要(CN): |
环境试验;湿热试验;能力鉴定;尺寸;膜集成电路;包装;软钎焊性试验;混合集成电路;质量保证体系;数据布置;验收检验;额定值;机械试验;电路;统计质量控制;集成电路;认可试验;质量控制;流程图;维修;抽样方法;质量(物质);资格鉴定;质量评估;检验;规范(验收);详细规范;电气试验;电子设备及元件;试验条件;评估的质量;半导体器件;分类系统 |
内容提要(EN): |
Capability approval;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Film circuits;Hybrid film integrated circuits;Hybrid integrated circuits;Integrated circuits;Integrated film circuits;Sectional specification;Semiconductor devices |
归属: |
英国 |