| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：薄膜集成电路和混合集成电路.通用规范:性能鉴定程序 |
| 标准号:BS EN 165000-1-1996 |
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| 标准号： |
BS EN 165000-1-1996 |
| 英文名称： |
Film and hybrid integrated circuits. Generic specification. Capability approval procedure |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>膜集成电路 |
| 发布日期： |
1996-10-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1996-10-15 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
70P;A4 |
| 被代替标准： |
94/216398 DC-1994 |
| 采用关系： |
EN 165000-1-1996,IDT |
| 内容提要（CN）： |
能力鉴定;电气工程;混合薄膜集成电路;总规范;薄膜电路;规范;集成电路;电子设备及元件 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance (approval);Approval testing;Capability approval;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic equipment and components;Environmental testing;Film circuits;Generic specification;Hybrid film integrated circuits;Hybrid integrated circuits;Inspection;Integrated circuits;Integrated film circuits;Leak tests;Marking;Mechanical testing;Quality assessment;Quality assurance;Quality assurance systems;Radioactive tracer methods;Solderability testing;Specification;Specification (approval);Testing conditions;Visual inspection (testing) |
| 归属： |
英国 |
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