标准号: |
BS QC 760100-1997 |
英文名称: |
Harmonized system of quality assessment for electronic components - Semiconductor devices - Integrated circuits - Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>膜集成电路 |
发布日期: |
1997-08-15 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
1997-08-15 |
ICS分类: |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
起草单位/标准公告: |
BSI |
正文语言: |
英语 |
页数: |
24P;A4 |
被代替标准: |
94/216416 DC-1994;BS QC 760100-1992 |
采用关系: |
IEC 60748-21-1997,IDT |
内容提要(CN): |
膜集成电路;尺寸;混合集成电路;集成电路;线路图;作标记;认可试验;质量保证体系;资格鉴定;抽样方法;质量评估;检验;电子设备及元件;评估的质量;合格;半导体器件 |
内容提要(EN): |
Electronic engineering;Film circuits;Hybrid integrated circuits;Integrated circuits;Quality assurance systems;Sectional specification;Semiconductor devices |
归属: |
英国 |