| 标准号： |
BS EN 60749-40-2011 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2011-09-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2011-09-30 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
26P;A4 |
| 采用关系： |
EN 60749-40-2011,IDT;IEC 60749-40-2011,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Climate;Climatic tests;Components;Definitions;Drop tests;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Error detection;Height of fall;Integrated circuits;Materials;Measurement;Measuring techniques;Mechanical testing;Parameters;Power electronics;Printed-circuit boards;Quality assurance;Reliability;Resistance strain gauges;Semiconductor devices;Semiconductors;Specimens;Surface mounting;Testing;Testing conditions;Testing devices |
| 归属： |
英国 |
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