| 标准号： |
BS EN 60749-34-2010 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2011-02-28 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2011-02-28 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
14P;A4 |
| 被代替标准： |
BS EN 60749-34-2004 |
| 采用关系： |
EN 60749-34-2010,IDT;IEC 60749-34-2010,IDT |
| 内容提要（CN）： |
气候试验;组件;周期性荷载;定义(术语);电负载;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;故障;集成电路;负载交替;机械测试;电力电子学;耐力;半导体器件;半导体;模拟;试验;测试条件 |
| 内容提要（EN）： |
Climatic tests;Components;Cyclic loading;Definitions;Electric load;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Failure;Integrated circuits;Load alternation;Mechanical testing;Power electronics;Resistance;Semiconductor devices;Semiconductors;Simulation;Testing;Testing conditions |
| 归属： |
英国 |
