| 标准号： |
BS DD IEC/PAS 60747-17-2011 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Discrete devices. Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced isolation |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2011-12-31 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2011-12-31 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
44P;A4 |
| 采用关系： |
IEC/PAS 60747-17-2011,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance inspection;Capacitive;Components;Couplers;Definitions;Discrete devices;Electrical engineering;Electrical insulating materials;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Endurance testing;Inspection;Integrated circuits;Magnetic;Measurement;Measuring techniques;Reliability;Semiconductor devices;Symbols;Testing |
| 归属： |
英国 |
