| 标准号： |
BS EN IEC 60749-13-2018 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Salt atmosphere |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2018-04-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-04-30 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
20P.;A4 |
| 被代替标准： |
BS EN 60749-13-2002 |
| 引用标准： |
IEC 60749-14;EN 60749-14;MIL-STD-883J |
| 采用关系： |
EN IEC 60749-13-2018,IDT;IEC 60749-13-2018,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Destructive testing;Environmental testing;Salt-spray tests;Electronic equipment and components;Mechanical testing;Accelerated corrosion tests;Climate;Integrated circuits;Accelerated testing;Salts;Corrosion resistance;Semiconductor devices |
| 归属： |
英国 |
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