| 标准号： |
BS EN IEC 60749-12-2018 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Vibration, variable frequency |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2018-04-18 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-04-18 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
10P.;A4 |
| 被代替标准： |
BS EN 60749-12-2002 |
| 引用标准： |
MIL-STD-883J-2007;IEC 60068-2-6;EN 60068-2-6;JESD22-B103 |
| 采用关系： |
EN IEC 60749-12-2018,IDT;IEC 60749-12-2017,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Climate;Frequencies;Mechanical testing;Electronic equipment and components;Environmental testing;Vibration testing;Destructive testing;Integrated circuits;Semiconductor devices;Variable |
| 归属： |
英国 |
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