| 标准号： |
ISO 18516-2006 |
| 英文名称： |
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
2006-11 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
化学分析>>化学分析 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 201 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
24P.;A4 |
| 附注： |
/ Note: To be replaced by ISO/DIS 18516 (2015-03). |
| 被代替标准： |
ISO/DIS 18516-2005 |
| 引用标准： |
ISO 18115-2001 |
| 采用关系： |
BS ISO 18516-2006,IDT;GB/T 28632-2012,IDT;NF X21-061-2008,IDT;X21-061PR,IDT |
| 内容提要（CN）： |
螺旋电子光谱法;化学分析和试验;数据分析;定义;精整;测量;光电子的;定量分析;光谱测定法;光谱学;平尺;表面化学;表面;X射线光度法 |
| 内容提要（EN）： |
Auger electron spectroscopy;Chemical analysis and testing;Data analysis;Definition;Definitions;Finishes;Measurement;Photoelectronics;Quantitative analysis;Spectrometry;Spectroscopy;Straightedges;Surface chemistry;Surfaces;X-ray spectrometry |
| 归属： |
国际 |
