| 标准号： |
ISO 23830-2008 |
| 英文名称： |
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry |
| 中标分类： |
综合>>化学 |
| 发布日期： |
2008-11 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
化学分析>>化学分析 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 201 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
12P;A4 |
| 被代替标准： |
ISO/DIS 23830-2007 |
| 采用关系： |
BS ISO 23830-2008,IDT;NF X21-064-2009,IDT;JIS K 0153-2015,IDT |
| 内容提要（CN）： |
校准;化学分析和测试;稳定性;含量测定;评估;精整;质谱学;数学计算;测量;测量技术;精密度;重复性;次级离子质谱测定法;分光计;光谱测定法 |
| 内容提要（EN）： |
Calibration;Chemical analysis and testing;Constancy;Determination of content;Evaluation;Finishes;Mass spectrometry;Mathematical calculations;Measurement;Measuring techniques;Precision;Repeatability;Secondary-ion mass spectrometry;Spectrometers;Spectrometry |
| 归属： |
国际 |
