| 标准号： |
IEC 60749-26-2018 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2018-0101 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 47 Halbleiterbauelemente;IEC/TC 47 Semiconductor devices;CEI/CE 47 Dispositifs à semiconducteurs |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM) |
| 页数： |
106P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60749-26-2018-01;IEC 47/2438/FDIS-2017-11;IEC 47/2343/CDV-2017-01;IEC 60749-26-2013-04;IEC 47/2160/FDIS-2013-01;IEC 47/2101A/CDV-2011-07;IEC 47/2101/CDV-2011-07;IEC 60749-26-2006-07;IEC 47/1859/FDIS-2006-03;IEC 47/1803/CDV-2005-01;IEC 60749-26-2003-10;IEC 47/1703/FDIS-2003-06;IEC 47/1623/CDV-2002-04;IEC/PAS 62179-2000-08 |
| 被代替标准： |
IEC 47/2438/FDIS-2017;IEC 60749-26-2013 |
| 采用关系： |
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2014,NEQ |
| 内容提要（EN）： |
Changes of temperature;Checking equipment;Classification;Components;Definitions;Dimensions;Discharge;Electrical components;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Electrostatic;Electrostatic discharges;Electrostatics;Environment;Environmental testing;Environmental tests;Failure;Human body;Impulse loadability;Integrated circuits;Interference susceptibility;Measuring equipment;Mechanical testing;Models;Resistance;Semiconductor devices;Semiconductors;Simulation;Temperature;Testing;Visual inspection (testing);Waveforms;Patterns;Testing devices |
| 归属： |
国际 |
