| 标准号： |
BS QC 750114-1996 |
| 英文名称： |
Harmonized system of quality assessment for electronic components - Semiconductor devices - Discrete devices - Field-effect transistors - Blank detail specification for case-rated field-effect transistors for switching applications |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>场效应器件 |
| 发布日期： |
1996-12-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1996-12-15 |
| ICS分类： |
电子设备用机械构件>>电子设备用机械构件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
20P;A4 |
| 被代替标准： |
86/26195 DC-1986 |
| 采用关系： |
IEC 60747-8-3-1995,IDT |
| 内容提要（CN）： |
试验条件;电子设备及元件;资格鉴定;检验;质量评估;质量评估;半导体器件;评估的质量;认可试验;规范(验收);晶体管;场效应晶体管;详细规范;质量保证体系 |
| 内容提要（EN）： |
Detail specification;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic equipment and components;Field-effect transistors;Semiconductor devices;Specification;Transistors |
| 归属： |
英国 |
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